Inhalt

Suche

Neue Suche

Annual IEEE Semiconductor Thermal and Temperature Measurement Symposium

Piscataway, NJ : Inst. of Electr. and Electronics Engineers Nachgewiesen 4.1988 - 5.1989

Diesen Titel auf die Merkliste setzen

Optionen

Exportieren MARC21xml JSON-LD Turtle RDF/XML Feedback

Bestellen

Mehr Titelinformationen

ZDB-ID

636050-6

Titel

Annual IEEE Semiconductor Thermal and Temperature Measurement Symposium

Körperschaft

Semiconductor Thermal and Temperature Measurement Symposium

Institute of Electrical and Electronics Engineers

Erschienen

Piscataway, NJ : Inst. of Electr. and Electronics Engineers

Erscheinungsverlauf

Nachgewiesen 4.1988 - 5.1989

Anmerkungen

Forts. als Monographie behandelt

Standardnummern

OCLC-Nr.: 647253267

Sacherschließung

DDC-Sachgruppen der ZDB: 620 Ingenieurwissenschaften und Maschinenbau

Erscheinungsform

Zeitschrift

Veröffentlichungsform

Kongressbericht

Erscheinungsland

Vereinigte Staaten, USA, United States

Medientyp

Druckausgabe

IDN

013698001

Letzte Änderung

03-09-22

SchließenxKostenpflichtige Dokumentlieferdienste: Lieferung von Aufsatzkopien und Druckausgaben zur Ausleihe

Bitte beachten Sie: Die ZDB bietet lediglich den Link zum Bestellsystem und übernimmt keinerlei Gewähr für eine erfolgreiche Bestellung. Richten Sie Fragen bitte ausschließlich an die Auskunft Ihrer Heimatbibliothek. Bitte beachten Sie die Bedingungen der einzelnen Anbieter.