240853-3  

Microelectronics reliability

Amsterdam [u.a.] : Elsevier

Oxford [u.a.] : Pergamon Press [anfangs]

3.1964 -

Titelzusatz früher: An internat. journal & world abstracting service

Hauptsacht. 3.1964 - 37.1997: Microelectronics and reliability

Abkürzungstitel: Microelectron. Reliab.

Abkürzungstitel: Microelectron. a. Reliab.

Abkürzungstitel: Microelectron. & Reliab. (GB)

Ab 2016 entfällt die Issue-Zählung

Repr.: Oxford : Pergamon Press

Vorg.:  Electronics reliability and micro-miniaturization 

Erscheint auch als Online-Ausgabe:  Microelectronics reliability  (ISSN: 0026-2714) 

13,5=1974; 14,4=1975 von:  SEMINEX Technical Seminar and Exhibition: Papers read at the SEMINEX Seminar 

14,2=1975; 15,Suppl.=1976; 17,1=1977; 19,1/2=1978; 20,1/2=1980 von:  Canadian Reliability Symposium: Proceedings 

15,4=1976; 16,4=1977; 18,1/2=1978 von:  Semiconductor technology 

19,5/6=1979; 21,3=1980; 21,6=1981 von:  Semiconductor and microprocessor technology 

24,2=12 von:  Yugoslav Conference on Microelectronics: Review papers from the ... Yugoslav Conference on Microelectronics 

32,11=1992; 33,11/12=1993; 35,3=1995; 36,7/8=1996; 37,7=1997 von:  Reliability physics of advanced electron devices 

ISSN: 0026-2714

OCLC-Nr.: 1367286670

MCRLA

DDC-Sachgruppen der ZDB: 620 Ingenieurwissenschaften und Maschinenbau 

Weitere Klassifikation(en):
Systematik der TUB München (stub): ELT 240z

Zeitschrift

Englisch 

Niederlande  ;  Vereinigtes Königreich, Großbritannien 

Druckausgabe

011452617

12-02-25