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ZDB-ID

1484842-9  

Titel

Defects and diffusion in semiconductors : an annual retrospective

Erschienen

Uetikon-Zürich : Scitec Publ.

Erscheinungsverlauf

[1.]1998; 2.1999 -

Weitere Titelhinweise

[1]=162/163; 2=171/172; 3=183/185; 4=200/202; 5=210/212; 6=221/223; 7=230/232; 11=282 von:  [Diffusion and defect data / A]  (ISSN: 0377-6883) 

Standardnummern

OCLC-Nr.: 845315307

Sacherschließung

DDC-Sachgruppen der ZDB: 620 Ingenieurwissenschaften und Maschinenbau 

Schlagwörter:
Halbleiter ; Gitterbaufehler ; Diffusion
Erscheinungsform

Zeitschrift

Sprache
Erscheinungsland
Medientyp

Druckausgabe

IDN

019776950

Letzte Änderung

01-12-17

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Signatur
P2 Pl Mag Gaz Wyb
Bestand
1.2002, 1(479) -
[Zug.-Nr.: Fb 0074]
Fernleihe
nein
Signatur
2° - ZsMag 2408
Standort
Großformat
Bestand
2014,36; 2015,22
Fernleihe
ja, Kopie und Ausleihe
Signatur
2 Eph.pol. 121 p
Bestand
2007 - 2010
[Beigeb. bei: Gazeta wyborcza; Sign. ab 2011: 2 Z 2011.36; Lückenhaft]
Fernleihe
ja, Kopie und Ausleihe
Signatur
2 Z 2011.36
Standort
Standortsignatur: Hbzs Ztg. 60 b = Neueste Hefte
Bestand
2011 -
[Beigeb. bei: Gazeta wyborczy; Sign. bis 2010: 2 Eph. pol. 121 p; Lückenhaft]
Fernleihe
ja, Kopie und Ausleihe