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Mustererkennung : proceedings ; DAGM-Symposium
Berlin ; Heidelberg ; New York, NY ; Barcelona ; Hongkong ; London ; Mailand ; Paris ; Singapur ; Tokio : Springer 1983-2000
Titel
Mustererkennung : proceedings ; DAGM-Symposium
Erschienen
Berlin ; Heidelberg ; New York, NY ; Barcelona ; Hongkong ; London ; Mailand ; Paris ; Singapur ; Tokio : Springer
Berlin ; Offenbach : VDE-Verl. [1983]
Erscheinungsverlauf
Nachgewiesen 5.1983; [6.]1984; 7.1985 - 22.2000
Anmerkungen
Zusatz teils: DAGM-ÖAGM-Symposium
Ersch. jährl.
Beteil. Körp. teils: Österreichische Computer-Gesellschaft, Arbeitskreis für Mustererkennung
24 cm
Beitr. teilw. dt., teilw. engl.
Sacherschließung
DDC-Sachgruppen der ZDB: 004 Informatik
Dewey-Dezimalklassifikation: 006.4
Weitere Klassifikation(en):
Regensburger Verbundklassifikation (rvk): ST 330
Schlagwörter: Mustererkennung ; Kongress
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Pattern recognition : ... DAGM Symposium ; proceedings
Heidelberg ; Dordrecht ; London ; New York, NY : Springer 2001-2012
Titel
Pattern recognition : ... DAGM Symposium ; proceedings
Erschienen
Heidelberg ; Dordrecht ; London ; New York, NY : Springer
Berlin ; Heidelberg ; New York, NY : Springer [anfangs]
Anmerkungen
Zusatz 2012: Joint DAGM and OAGM symposium
Ersch. jährl.; Forts. ersch. als Monografie
Beteil. Körp. 2012: OAGM
24 cm
Sacherschließung
DDC-Sachgruppen der ZDB: 004 Informatik
Dewey-Dezimalklassifikation: 006.4
Weitere Klassifikation(en):
Regensburger Verbundklassifikation (rvk): SS 4800
Schlagwörter: Mustererkennung ; Kongress
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Pattern recognition / Austrian Association for Pattern Recognition
Wien ; München : Oldenbourg 1992 -
Titel
Pattern recognition / Austrian Association for Pattern Recognition
Erschienen
Wien ; München : Oldenbourg
Sacherschließung
DDC-Sachgruppen der ZDB: 004 Informatik
Schlagwörter: Mustererkennung ; Kongress
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Mustererkennung : proceedings ; DAGM-Symposium
Berlin ; Heidelberg ; New York, NY ; Barcelona ; Hongkong ; London ; Mailand ; Paris ; Singapur ; Tokio : Springer 1983-2000
Titel
Mustererkennung : proceedings ; DAGM-Symposium
Erschienen
Berlin ; Heidelberg ; New York, NY ; Barcelona ; Hongkong ; London ; Mailand ; Paris ; Singapur ; Tokio : Springer
Berlin ; Offenbach : VDE-Verl. [1983]
Erscheinungsverlauf
Nachgewiesen 5.1983; [6.]1984; 7.1985 - 22.2000
Anmerkungen
Zusatz teils: DAGM-ÖAGM-Symposium
Ersch. jährl.
Beteil. Körp. teils: Österreichische Computer-Gesellschaft, Arbeitskreis für Mustererkennung
Online-Ressource
Beitr. teilw. dt., teilw. engl.
Gesehen am 30.10.13
Weitere Titelhinweise
Einzelne Bd. zugl. Bd. von 5=35 von Verband Deutscher Elektrotechniker: VDE-Fachberichte
Einzelne Bd. zugl. Bd. von [6]=87; 7=107; 8=125; 9=149; 10=180; 11=219; 12=254; 13=290 von Informatik-Fachberichte
Sacherschließung
DDC-Sachgruppen der ZDB: 004 Informatik
Dewey-Dezimalklassifikation: 006.4
Weitere Klassifikation(en):
Regensburger Verbundklassifikation (rvk): ST 330
Schlagwörter: Mustererkennung ; Kongress
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