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Journal of technology computer aided design : TCAD ; a publication of the IEEE Electron Devices Society
[Erscheinungsort nicht ermittelbar] : Soc. Nachgewiesen 1996 - 2001; damit Ersch. eingest.
Titel
Journal of technology computer aided design : TCAD ; a publication of the IEEE Electron Devices Society
Erschienen
[Erscheinungsort nicht ermittelbar] : Soc.
Erscheinungsverlauf
Nachgewiesen 1996 - 2001; damit Ersch. eingest.
Anmerkungen
Nebent.: IEEE journal of technology computer aided design
Hauptsacht. 1996/97 - 1997/98: IEEE transactions on semiconductor technology modeling and simulation
Online-Ressource
Gesehen am 02.09.2019
Standardnummern
ISSN: 1097-2102
OCLC-Nr.: 1368120229
Sacherschließung
DDC-Sachgruppen der ZDB: 004 Informatik ; 600 Technik
Weitere Klassifikation(en):
Systematik der TUB München (stub): ELT 035z ; ELT 272z
Schlagwörter: VLSI ; CAD ; Zeitschrift ; Online-Ressource
Halbleitertechnologie ; Zeitschrift ; Online-Ressource
Integrierte Schaltung ; Entwurfsautomation ; Zeitschrift ; Online-Ressource
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IEEE journal on flexible electronics / a publication of the IEEE Sensors Council; the IEEE Electron Devices Society; the IEEE Circuits and Systems Society
[New York, NY] : IEEE Volume 1, number 1 (January 2022)-
Titel
IEEE journal on flexible electronics / a publication of the IEEE Sensors Council; the IEEE Electron Devices Society; the IEEE Circuits and Systems Society
Erscheinungsverlauf
Volume 1, number 1 (January 2022)-
Standardnummern
ISSN: 2768-167X
OCLC-Nr.: 1331099248
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IEEE transactions on electron devices : ED ; a publication of the IEEE Electron Devices Society
New York, NY : IEEE Volume ED 10, number 1 (January 1963)-
Titel
IEEE transactions on electron devices : ED ; a publication of the IEEE Electron Devices Society
Erscheinungsverlauf
Volume ED 10, number 1 (January 1963)-
Anmerkungen
Abkürzungstitel: IEEE Trans. Electron Devices
Abkürzungstitel: IEEE Trans. on Electron Devices
Abkürzungstitel: IEEE Trans. Electron Devices (USA)
Online-Ressource
Gesehen am 07.09.2022
Standardnummern
ISSN: 1557-9646
OCLC-Nr.: 1368142500
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IEEE transactions on electron devices : a publication of the IEEE Electron Devices Society
New York, NY : IEEE 10.1963 -
Titel
IEEE transactions on electron devices : a publication of the IEEE Electron Devices Society
Anmerkungen
Zusatz anfangs: ED
Abkürzungstitel: IEEE Trans. Electron Devices
Abkürzungstitel: IEEE Trans. on Electron Devices
Abkürzungstitel: IEEE Trans. Electron Devices (USA)
Beteil. Körp. anfangs: Electron Devices Group
Standardnummern
ISSN: 0018-9383
OCLC-Nr.: 630201403
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IEEE journal of the Electron Devices Society : J-EDS / Institute of Electrical and Electronics Engineers
[New York, NY] : IEEE 1.2013 -
Titel
IEEE journal of the Electron Devices Society : J-EDS / Institute of Electrical and Electronics Engineers
Anmerkungen
Online-Ressource
Gesehen am 27.12.12
Standardnummern
ISSN: 2168-6734
DOAJ-b7741c170ae7434aa31c736aee238689
OCLC-Nr.: 1368739070
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IEEE transactions on device and materials reliability : a publication of the IEEE Electron Devices Society and the IEEE Reliability Society
New York, NY : IEEE 1.2001 -
Titel
IEEE transactions on device and materials reliability : a publication of the IEEE Electron Devices Society and the IEEE Reliability Society
Anmerkungen
Abkürzungstitel: IEEE T-DMR
Abkürzungstitel: IEEE Trans. Device and Materials Reliability
Standardnummern
ISSN: 1530-4388
OCLC-Nr.: 1368068239
Sacherschließung
DDC-Sachgruppen der ZDB: 620 Ingenieurwissenschaften und Maschinenbau
Weitere Klassifikation(en):
Systematik der TUB München (stub): ELT 240z
Schlagwörter: Elektronik ; Zuverlässigkeit ; Zeitschrift
Elektronik ; Zuverlässigkeit ; Zeitschrift
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Reliability physics : annual proceedings / International Reliability Physics Symposium. Sponsored by the IEEE Electron Devices Society and the IEEE Reliability Society
New York, NY : IEEE 12.1974 - 27.1989
Titel
Reliability physics : annual proceedings / International Reliability Physics Symposium. Sponsored by the IEEE Electron Devices Society and the IEEE Reliability Society
Anmerkungen
Nebent. 12.1974: Annual reliability physics proceedings
Forts. als Monographie behandelt
Standardnummern
ISSN: 0735-0791
OCLC-Nr.: 630267943
Sacherschließung
DDC-Sachgruppen der ZDB: 600 Technik
Schlagwörter: Zuverlässigkeit ; Elektronik ; Kongress
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Technical digest / International Electron Devices Meeting. Sponsored by IEEE Group on Electron Devices
New York, NY : Inst. 19.1973 - 25.1979; 1980 - 1989
Titel
Technical digest / International Electron Devices Meeting. Sponsored by IEEE Group on Electron Devices
Erscheinungsverlauf
19.1973 - 25.1979; 1980 - 1989
Anmerkungen
Nebent. teils: IEDM technical digest
Forts. als Monographie behandelt
Beteil. Körp. später: Electron Decives Society
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Proceedings / International IEEE VLSI Multilevel Interconnection Conference. Sponsored by IEEE Electron Devices Society
Piscataway, NJ : IEEE 1.1984 -
Titel
Proceedings / International IEEE VLSI Multilevel Interconnection Conference. Sponsored by IEEE Electron Devices Society
Anmerkungen
Nebent.: IEEE ... International VLSI Multilevel Interconnection Conference proceedings
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Digest of technical papers / ... Symposium on VLSI Technology ; the IEEE Electron Devices Society; the Japan Society of Applied Physics
Tokyo : Japan Soc. of Applied Physics [1].1981 - 9.1989
Titel
Digest of technical papers / ... Symposium on VLSI Technology ; the IEEE Electron Devices Society; the Japan Society of Applied Physics
Erschienen
Tokyo : Japan Soc. of Applied Physics
Anmerkungen
Forts. als Monogr. behandelt
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Proceedings of the ... IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures : ICMTS / sponsored by IEEE Electron Devices Society
New York, NY : Inst. of Electr. and Electronics Engineers 1.1988 - 2.1989
Titel
Proceedings of the ... IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures : ICMTS / sponsored by IEEE Electron Devices Society
Erschienen
New York, NY : Inst. of Electr. and Electronics Engineers
Anmerkungen
Forts. als Monographie behandelt
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IEEE Electron Devices Society newsletter
New York, NY : IEEE 1.1994,1(Juli) -
Titel
IEEE Electron Devices Society newsletter
Standardnummern
ISSN: 1074-1879
OCLC-Nr.: 1366331994
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Vacuum electron devices : a publication of the IEEE Electron Devices Society
New York, NY : [Verlag nicht ermittelbar] Nachgewiesen 1986 -
Titel
Vacuum electron devices : a publication of the IEEE Electron Devices Society
Erschienen
New York, NY : [Verlag nicht ermittelbar]
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