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Journal of technology computer aided design : TCAD ; a publication of the IEEE Electron Devices Society

[Erscheinungsort nicht ermittelbar] : Soc. Nachgewiesen 1996 - 2001; damit Ersch. eingest.

ZDB-ID

2021800-X  

Titel

Journal of technology computer aided design : TCAD ; a publication of the IEEE Electron Devices Society

Erschienen

[Erscheinungsort nicht ermittelbar] : Soc.

Erscheinungsverlauf

Nachgewiesen 1996 - 2001; damit Ersch. eingest.

Anmerkungen

Nebent.: IEEE journal of technology computer aided design

Hauptsacht. 1996/97 - 1997/98: IEEE transactions on semiconductor technology modeling and simulation

Online-Ressource

Gesehen am 02.09.2019

Standardnummern

ISSN: 1097-2102

OCLC-Nr.: 1368120229

Sacherschließung

DDC-Sachgruppen der ZDB: 004 Informatik  ;  600 Technik  

Weitere Klassifikation(en):
Systematik der TUB München (stub): ELT 035z ; ELT 272z

Schlagwörter:
VLSI ; CAD ; Zeitschrift ; Online-Ressource
Halbleitertechnologie ; Zeitschrift ; Online-Ressource
Integrierte Schaltung ; Entwurfsautomation ; Zeitschrift ; Online-Ressource
Erscheinungsform

Zeitschrift

Sprache
Medientyp

Online-Ausgabe

IDN

020706642

Letzte Änderung

30-04-24

Diesen Titel auf die Merkliste setzen

IEEE journal on flexible electronics / a publication of the IEEE Sensors Council; the IEEE Electron Devices Society; the IEEE Circuits and Systems Society

[New York, NY] : IEEE Volume 1, number 1 (January 2022)-

ZDB-ID

3121220-7  

Titel

IEEE journal on flexible electronics / a publication of the IEEE Sensors Council; the IEEE Electron Devices Society; the IEEE Circuits and Systems Society

Erschienen

[New York, NY] : IEEE

Erscheinungsverlauf

Volume 1, number 1 (January 2022)-

Anmerkungen

Online-Ressource

Standardnummern

ISSN: 2768-167X

OCLC-Nr.: 1331099248

Sacherschließung

DDC-Sachgruppen der ZDB: 621.3 Elektrotechnik, Elektronik 

Erscheinungsform

Zeitschrift

Sprache
Medientyp

Online-Ausgabe

Erscheinungsfrequenz

vierteljährlich

IDN

1259281922

Letzte Änderung

30-04-24

Diesen Titel auf die Merkliste setzen

IEEE transactions on electron devices : ED ; a publication of the IEEE Electron Devices Society

New York, NY : IEEE Volume ED 10, number 1 (January 1963)-

ZDB-ID

2028088-9  

Titel

IEEE transactions on electron devices : ED ; a publication of the IEEE Electron Devices Society

Erschienen

New York, NY : IEEE

Erscheinungsverlauf

Volume ED 10, number 1 (January 1963)-

Anmerkungen

Abkürzungstitel: IEEE Trans. Electron Devices

Abkürzungstitel: IEEE Trans. on Electron Devices

Abkürzungstitel: IEEE Trans. Electron Devices (USA)

Online-Ressource

Gesehen am 07.09.2022

Frühere/spätere Titel
Andere Ausgaben

Erscheint auch als Druck-Ausgabe:  Institute of Electrical and Electronics Engineers: IEEE transactions on electron devices  (ISSN: 0018-9383) 

Standardnummern

ISSN: 1557-9646

OCLC-Nr.: 1368142500

Coden

IETDA ; IETDAI

Persistent Identifier
Sacherschließung

DDC-Sachgruppen der ZDB: 620 Ingenieurwissenschaften und Maschinenbau 

Weitere Klassifikation(en):
Systematik der TUB München (stub): ELT 230z

Schlagwörter:
Elektronik ; Zeitschrift ; Online-Ressource
Erscheinungsform

Zeitschrift

Sprache
Medientyp

Online-Ausgabe

IDN

020922361

Letzte Änderung

30-04-24

Diesen Titel auf die Merkliste setzen

IEEE transactions on electron devices : a publication of the IEEE Electron Devices Society

New York, NY : IEEE 10.1963 -

ZDB-ID

241634-7  

Titel

IEEE transactions on electron devices : a publication of the IEEE Electron Devices Society

Erschienen

New York, NY : IEEE

Erscheinungsverlauf

10.1963 -

Anmerkungen

Zusatz anfangs: ED

Abkürzungstitel: IEEE Trans. Electron Devices

Abkürzungstitel: IEEE Trans. on Electron Devices

Abkürzungstitel: IEEE Trans. Electron Devices (USA)

Beteil. Körp. anfangs: Electron Devices Group

Andere Ausgaben

Erscheint auch als Online-Ausgabe:  Institute of Electrical and Electronics Engineers: IEEE transactions on electron devices  (ISSN: 1557-9646) 

Standardnummern

ISSN: 0018-9383

OCLC-Nr.: 630201403

Coden

IETDA

Sacherschließung

DDC-Sachgruppen der ZDB: 620 Ingenieurwissenschaften und Maschinenbau 

Weitere Klassifikation(en):
Systematik der TUB München (stub): ELT 230z

Schlagwörter:
Elektronik ; Zeitschrift
Erscheinungsform

Zeitschrift

Sprache
Medientyp

Druckausgabe

Erscheinungsfrequenz

monatlich

IDN

011459387

Letzte Änderung

11-10-22

Diesen Titel auf die Merkliste setzen

IEEE journal of the Electron Devices Society : J-EDS / Institute of Electrical and Electronics Engineers

[New York, NY] : IEEE 1.2013 -

https://ieeexplore.ieee.org/servlet/opac... [Verlag] kostenfrei zugänglich 

ZDB-ID

2696552-5  

Titel

IEEE journal of the Electron Devices Society : J-EDS / Institute of Electrical and Electronics Engineers

Erschienen

[New York, NY] : IEEE

Erscheinungsverlauf

1.2013 -

Anmerkungen

Online-Ressource

Gesehen am 27.12.12

Standardnummern

ISSN: 2168-6734

DOAJ-b7741c170ae7434aa31c736aee238689

OCLC-Nr.: 1368739070

URL

https://ezb.ur.de/?2696552-5  [EZB] 

https://ieeexplore.ieee.org/servlet/opac...  [Verlag] kostenfrei zugänglich

Lizenz-/Rechteangaben

Open Access. Herkunft: DOAJ. Creative Commons :  CC BY-NC-ND 4.0. 

Sacherschließung
Erscheinungsform

Zeitschrift

Sprache
Medientyp

Online-Ausgabe

Erscheinungsfrequenz

monatlich

IDN

102929920X

Letzte Änderung

19-04-24

Diesen Titel auf die Merkliste setzen

IEEE transactions on device and materials reliability : a publication of the IEEE Electron Devices Society and the IEEE Reliability Society

New York, NY : IEEE 1.2001 -

ZDB-ID

2057871-4  

Titel

IEEE transactions on device and materials reliability : a publication of the IEEE Electron Devices Society and the IEEE Reliability Society

Erschienen

New York, NY : IEEE

Erscheinungsverlauf

1.2001 -

Anmerkungen

Abkürzungstitel: IEEE T-DMR

Abkürzungstitel: IEEE Trans. Device and Materials Reliability

Andere Ausgaben
Standardnummern

ISSN: 1530-4388

OCLC-Nr.: 1368068239

Coden

ITDMA2

Sacherschließung

DDC-Sachgruppen der ZDB: 620 Ingenieurwissenschaften und Maschinenbau 

Weitere Klassifikation(en):
Systematik der TUB München (stub): ELT 240z

Schlagwörter:
Elektronik ; Zuverlässigkeit ; Zeitschrift
Elektronik ; Zuverlässigkeit ; Zeitschrift
Erscheinungsform

Zeitschrift

Sprache
Medientyp

Druckausgabe

IDN

022595686

Letzte Änderung

01-12-17

Diesen Titel auf die Merkliste setzen

Reliability physics : annual proceedings / International Reliability Physics Symposium. Sponsored by the IEEE Electron Devices Society and the IEEE Reliability Society

New York, NY : IEEE 12.1974 - 27.1989

ZDB-ID

627544-8  

Titel

Reliability physics : annual proceedings / International Reliability Physics Symposium. Sponsored by the IEEE Electron Devices Society and the IEEE Reliability Society

Erschienen

New York, NY : IEEE

Erscheinungsverlauf

12.1974 - 27.1989

Anmerkungen

Nebent. 12.1974: Annual reliability physics proceedings

Forts. als Monographie behandelt

Frühere/spätere Titel
Standardnummern

ISSN: 0735-0791

OCLC-Nr.: 630267943

Sacherschließung

DDC-Sachgruppen der ZDB: 600 Technik  

Schlagwörter:
Zuverlässigkeit ; Elektronik ; Kongress
Erscheinungsform

Zeitschrift

Veröffentlichungsform

Kongressbericht

Sprache
Medientyp

Druckausgabe

Erscheinungsfrequenz

jährlich

IDN

013627910

Letzte Änderung

03-09-22

Diesen Titel auf die Merkliste setzen

Technical digest / International Electron Devices Meeting. Sponsored by IEEE Group on Electron Devices

New York, NY : Inst. 19.1973 - 25.1979; 1980 - 1989

ZDB-ID

627323-3  

Titel

Technical digest / International Electron Devices Meeting. Sponsored by IEEE Group on Electron Devices

Erschienen

New York, NY : Inst.

Erscheinungsverlauf

19.1973 - 25.1979; 1980 - 1989

Anmerkungen

Nebent. teils: IEDM technical digest

Forts. als Monographie behandelt

Beteil. Körp. später: Electron Decives Society

Standardnummern

OCLC-Nr.: 183390042

Sacherschließung
Erscheinungsform

Zeitschrift

Veröffentlichungsform

Kongressbericht

Sprache
Medientyp

Druckausgabe

Erscheinungsfrequenz

jährlich

IDN

013626094

Letzte Änderung

03-09-22

Diesen Titel auf die Merkliste setzen

Proceedings / International IEEE VLSI Multilevel Interconnection Conference. Sponsored by IEEE Electron Devices Society

Piscataway, NJ : IEEE 1.1984 -

ZDB-ID

629303-7  

Titel

Proceedings / International IEEE VLSI Multilevel Interconnection Conference. Sponsored by IEEE Electron Devices Society

Erschienen

Piscataway, NJ : IEEE

Erscheinungsverlauf

1.1984 -

Anmerkungen

Nebent.: IEEE ... International VLSI Multilevel Interconnection Conference proceedings

Standardnummern

OCLC-Nr.: 985700486

Sacherschließung
Erscheinungsform

Zeitschrift

Veröffentlichungsform

Kongressbericht

Medientyp

Druckausgabe

IDN

013643290

Letzte Änderung

03-09-22

Diesen Titel auf die Merkliste setzen

Digest of technical papers / ... Symposium on VLSI Technology ; the IEEE Electron Devices Society; the Japan Society of Applied Physics

Tokyo : Japan Soc. of Applied Physics [1].1981 - 9.1989

ZDB-ID

627326-9  

Titel

Digest of technical papers / ... Symposium on VLSI Technology ; the IEEE Electron Devices Society; the Japan Society of Applied Physics

Erschienen

Tokyo : Japan Soc. of Applied Physics

Erscheinungsverlauf

[1].1981 - 9.1989

Anmerkungen

Forts. als Monogr. behandelt

Standardnummern

OCLC-Nr.: 310772174

Sacherschließung
Erscheinungsform

Zeitschrift

Veröffentlichungsform

Kongressbericht

Erscheinungsland

Japan 

Medientyp

Druckausgabe

Erscheinungsfrequenz

jährlich

IDN

013626124

Letzte Änderung

03-09-22

Diesen Titel auf die Merkliste setzen

Proceedings of the ... IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures : ICMTS / sponsored by IEEE Electron Devices Society

New York, NY : Inst. of Electr. and Electronics Engineers 1.1988 - 2.1989

ZDB-ID

1037354-8  

Titel

Proceedings of the ... IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures : ICMTS / sponsored by IEEE Electron Devices Society

Erschienen

New York, NY : Inst. of Electr. and Electronics Engineers

Erscheinungsverlauf

1.1988 - 2.1989

Anmerkungen

Forts. als Monographie behandelt

Standardnummern

OCLC-Nr.: 647936220

Sacherschließung
Erscheinungsform

Zeitschrift

Veröffentlichungsform

Kongressbericht

Medientyp

Druckausgabe

IDN

01569576X

Letzte Änderung

03-09-22

Diesen Titel auf die Merkliste setzen

IEEE Electron Devices Society newsletter

New York, NY : IEEE 1.1994,1(Juli) -

ZDB-ID

2737928-0  

Titel

IEEE Electron Devices Society newsletter

Erschienen

New York, NY : IEEE

Erscheinungsverlauf

1.1994,1(Juli) -

Standardnummern

ISSN: 1074-1879

OCLC-Nr.: 1366331994

Sacherschließung
Erscheinungsform

Zeitschrift

Medientyp

Druckausgabe

Erscheinungsfrequenz

vierteljährlich

IDN

1043072225

Letzte Änderung

01-12-17

Diesen Titel auf die Merkliste setzen

Vacuum electron devices : a publication of the IEEE Electron Devices Society

New York, NY : [Verlag nicht ermittelbar] Nachgewiesen 1986 -

ZDB-ID

1365532-2  

Titel

Vacuum electron devices : a publication of the IEEE Electron Devices Society

Erschienen

New York, NY : [Verlag nicht ermittelbar]

Erscheinungsverlauf

Nachgewiesen 1986 -

Standardnummern

OCLC-Nr.: 633325591

Sacherschließung

DDC-Sachgruppen der ZDB: 620 Ingenieurwissenschaften und Maschinenbau 

Schlagwörter:
Vakuumtechnik ; Elektronenröhre ; Zeitschrift
Erscheinungsform

Zeitschrift

Medientyp

Druckausgabe

IDN

018639437

Letzte Änderung

01-12-17

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