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Proceedings of the ... IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures : ICMTS / sponsored by IEEE Electron Devices Society

New York, NY : Inst. of Electr. and Electronics Engineers 1.1988 - 2.1989

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ZDB-ID

1037354-8

Titel

Proceedings of the ... IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures : ICMTS / sponsored by IEEE Electron Devices Society

Körperschaft

International Conference on Microelectronic Test Structures

IEEE Electron Devices Society

Erschienen

New York, NY : Inst. of Electr. and Electronics Engineers

Erscheinungsverlauf

1.1988 - 2.1989

Anmerkungen

Forts. als Monographie behandelt

Standardnummern

OCLC-Nr.: 647936220

Sacherschließung

DDC-Sachgruppen der ZDB: 620 Ingenieurwissenschaften und Maschinenbau

Erscheinungsform

Zeitschrift

Veröffentlichungsform

Kongressbericht

Erscheinungsland

Vereinigte Staaten, USA, United States

Medientyp

Druckausgabe

IDN

01569576X

Letzte Änderung

03-09-22

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