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1037354-8
Proceedings of the ... IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures : ICMTS / sponsored by IEEE Electron Devices Society
International Conference on Microelectronic Test Structures
IEEE Electron Devices Society
New York, NY : Inst. of Electr. and Electronics Engineers
1.1988 - 2.1989
Forts. als Monographie behandelt
OCLC-Nr.: 647936220
DDC-Sachgruppen der ZDB: 620 Ingenieurwissenschaften und Maschinenbau
Zeitschrift
Kongressbericht
Vereinigte Staaten, USA, United States
Druckausgabe
01569576X
03-09-22