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Secondary ion mass spectrometry : SIMS ; proceedings of the ... International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry

Chichester : Wiley 1979-1988

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ZDB-ID

232645-0

Titel

Secondary ion mass spectrometry : SIMS ; proceedings of the ... International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry

Körperschaft

SIMS

Erschienen

Chichester : Wiley

Berlin ; Heidelberg [u.a.] : Springer [1979-1986]

Erscheinungsverlauf

Nachgewiesen 2.1979 - 6.1988

Anmerkungen

Forts. als Monographie behandelt

Weitere Titelhinweise

2=9; 3=19; 4=36; 5=44 von: Springer series in chemical physics (ISSN: 0172-6218)

Standardnummern

OCLC-Nr.: 263598619

Sacherschließung

DDC-Sachgruppen der ZDB: 530 Physik

Weitere Klassifikation(en):
Regensburger Verbundklassifikation (rvk): VG 9808

Erscheinungsform

Zeitschrift

Veröffentlichungsform

Kongressbericht

Erscheinungsland

Deutschland

Medientyp

Druckausgabe

IDN

011392673

Letzte Änderung

12-11-24

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