221741-7  

Scanning electron microscopy : SEM ; an internat. journal of scanning electron microscopy, related techniques and applications / Symposium director Om Johari; Irene Corvin

IIT Research Institute 

O'Hara, Ill. : Scanning Electron Microscopy Inc.

Chicago, Ill. : [Verlag nicht ermittelbar] [1968-1977]

[1.]1968 - 10.1977; 1978 - 1986

Zusatz [1.]1968: proceedings of the Symposium on the Scanning Electron Microscope

Zusatz [1.]1968: the instrument and its applications

Zusatz 4.1971: proceedings of the P.1,4. Annual Scanning Electron Microscope Symposium (April 27-29, 1971), and P.2, Workshop on Forensic Applications of the Scanning Electron Microscope

Zusatz später: proceedings of the ... Annual Scanning Electron Microscope Symposium, held at IIT Research Institute

Abkürzungstitel: Scan Electron Microsc

Abkürzungstitel: Scanning Electron Microsc.

Abkürzungstitel: Scanning Electron Microsc. (USA)

Forts.:  Scanning microscopy 

1969=2 von:  Scanning Electron Microscope Symposium: Proceedings of the Annual Scanning Electron Microscope Symposium 

ISSN: 0586-5581

OCLC-Nr.: 1371235771

SEMBY ; SEMYB

DDC-Sachgruppen der ZDB: 570 Biowissenschaften, Biologie 

Weitere Klassifikation(en):
Regensburger Verbundklassifikation (rvk): UH 6300 ; WC 3100
Systematik der TUB München (stub): CHE 264f ; PHY 135f

Sondersammelgebiet: FID-BIODIV-DE-30

Zeitschrift

Kongressbericht

Vereinigte Staaten, USA, United States 

Druckausgabe

011309369

11-03-25