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IEEE design & test : D & T

New York, NY : IEEE 2013 -

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ZDB-ID

2714080-5

Titel

IEEE design & test : D & T

Körperschaft

Institute of Electrical and Electronics Engineers

Erschienen

New York, NY : IEEE

Erscheinungsverlauf

30.2013 -

Anmerkungen

Online-Ressource

Gesehen am 03.05.17

Frühere/spätere Titel

Vorg.: Institute of Electrical and Electronics Engineers: IEEE design & test of computers

Andere Ausgaben

Erscheint auch als Druck-Ausgabe: Institute of Electrical and Electronics Engineers: IEEE design & test (ISSN: 2168-2356)

Standardnummern

Linking ISSN: 2168-2356

ISSN: 2168-2364

OCLC-Nr.: 846959366

URL

https://ezb.ur.de/?2714080-5 [EZB]

https://ieeexplore.ieee.org/servlet/opac... [Verlag]

https://www.computer.org/csdl/mags/dt/in... [Verlag]

Sacherschließung

DDC-Sachgruppen der ZDB: 004 Informatik ; 600 Technik

Erscheinungsform

Zeitschrift

Sprache

Englisch

Erscheinungsland

Vereinigte Staaten, USA, United States

Medientyp

Online-Ausgabe

Erscheinungsfrequenz

alle zwei Monate

IDN

1034034839

Letzte Änderung

12-02-25

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