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Methods of measurement for semiconductor materials, process control, and devices : quarterly report / US Department of Commerce, National Bureau of Standards

Washington, DC : US Gov.Print.Off. Nachgewiesen 9.1970,Juli/Sept.(1971) - 20.1973,Apr./Jan.

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ZDB-ID

442599-6

Titel

Methods of measurement for semiconductor materials, process control, and devices : quarterly report / US Department of Commerce, National Bureau of Standards

Erschienen

Washington, DC : US Gov.Print.Off.

Erscheinungsverlauf

Nachgewiesen 9.1970,Juli/Sept.(1971) - 20.1973,Apr./Jan.

Frühere/spätere Titel

Forts.: Semiconductor measurement technology

Weitere Titelhinweise

9=571; 10=592; 11=598; 12=702; 13=717; 14=727; 15=733; 16=743; 17=754; 18=773; 19=788; 20=806 von: USA. National Bureau of Standards: National Bureau of Standards technical note (ISSN: 0083-1913)

Standardnummern

ISSN: 0090-8541

OCLC-Nr.: 1367772948

Sacherschließung

DDC-Sachgruppen der ZDB: 620 Ingenieurwissenschaften und Maschinenbau

Erscheinungsform

Zeitschrift

Erscheinungsland

Vereinigte Staaten, USA, United States

Medientyp

Druckausgabe

IDN

012538868

Letzte Änderung

03-09-22

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