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Defects and diffusion in semiconductors : an annual retrospective

Uetikon-Zürich : Scitec Publ. [1.]1998; 2.1999 -

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ZDB-ID

1484842-9

Titel

Defects and diffusion in semiconductors : an annual retrospective

Erschienen

Uetikon-Zürich : Scitec Publ.

Erscheinungsverlauf

[1.]1998; 2.1999 -

Weitere Titelhinweise

[1]=162/163; 2=171/172; 3=183/185; 4=200/202; 5=210/212; 6=221/223; 7=230/232; 11=282 von: [Diffusion and defect data / A] (ISSN: 0377-6883)

Standardnummern

OCLC-Nr.: 845315307

Sacherschließung

DDC-Sachgruppen der ZDB: 620 Ingenieurwissenschaften und Maschinenbau

Schlagwörter:
Halbleiter ; Gitterbaufehler ; Diffusion

Erscheinungsform

Zeitschrift

Sprache

Englisch

Erscheinungsland

Schweiz

Medientyp

Druckausgabe

IDN

019776950

Letzte Änderung

01-12-17

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Aachen RWTH UB

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Bestand

Signatur

Ch7670

Bestand

[1.]1998 - 5.2002

Fernleihe

ja, Kopie und Ausleihe

Braunschweig UB

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Bestand

Signatur

10-C1-001(A)

Standort

Bestand

[Bestand s. zugehörige Publikationen]

Fernleihe

ja, nur Papierkopie

Göttingen SUB

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Bestand

Signatur

vorh. in: ZA 29608

Bestand

9.2007
[Enthalten in: Diffusion and defect data / A]

Fernleihe

ja, nur Papierkopie

Hannover TIB

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Bestand

[[1.]1998 = ZN 2387(162-163); 2.1999 = ZN 2387(171-172); 3.2000 = ZN 2387(183-185); 4.2002 = ZN 2387(200-202); 5.2002 = ZN 2387(210-212); 6.2003 = ZN 2387(221-223); 7.2004 = ZN 2387(230-232); 8.2005 = ZN 2387(245/246); 9.2007 = ZN 2387(261/262). Für weitere Bände siehe "Zugehörige Publikationen"]

Fernleihe

ja, Kopie und Ausleihe

Ilmenau UB

Link zur Standortkarte mit weiterführenden Bibliotheksinformationen[THU, DE-Ilm1]

Bestand

Signatur

Für die Auflistung der Bände den Link "zugehörige Publikationen" benutzen

Bestand

Einzelbandnachweis
[Bestand s. GVK (Link anklicken)]

Fernleihe

ja, Kopie und Ausleihe

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