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IEEE design & test

New York, NY : IEEE 2013 -

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ZDB-ID

2729075-X

Titel

IEEE design & test

Körperschaft

Institute of Electrical and Electronics Engineers

Erschienen

New York, NY : IEEE

Erscheinungsverlauf

30.2013 -

Frühere/spätere Titel

Vorg.: Institute of Electrical and Electronics Engineers: IEEE design & test of computers

Andere Ausgaben

Erscheint auch als Online-Ausgabe: Institute of Electrical and Electronics Engineers: IEEE design & test (ISSN: 2168-2364)

Standardnummern

ISSN: 2168-2356

OCLC-Nr.: 830510755

Sacherschließung

DDC-Sachgruppen der ZDB: 004 Informatik

Schlagwörter:
Datenverarbeitungssystem ; Leistungsbewertung
Computer ; Entwurf

Erscheinungsform

Zeitschrift

Sprache

Englisch

Erscheinungsland

Vereinigte Staaten, USA, United States

Medientyp

Druckausgabe

Erscheinungsfrequenz

alle zwei Monate

IDN

103822215X

Letzte Änderung

08-04-19

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