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Defects in semiconductors / Symposium on Defects in Semiconductors

New York, NY [u.a.] : North-Holland Publ. Co. [1.]1980(1981); 2.1982(1983)[?]

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ZDB-ID

605292-7

Titel

Defects in semiconductors / Symposium on Defects in Semiconductors

Körperschaft

Symposium on Defects in Semiconductors

Materials Research Society

Erschienen

New York, NY [u.a.] : North-Holland Publ. Co.

Erscheinungsverlauf

[1.]1980(1981); 2.1982(1983)[?]

Weitere Titelhinweise

[1]=2; 2=14 von: Materials Research Society: Materials Research Society symposium proceedings (ISSN: 0272-9172)

[1]=1980,2 von: Materials Research Society: Proceedings of the Materials Research Society annual meeting

Standardnummern

OCLC-Nr.: 1184806519

Sacherschließung

DDC-Sachgruppen der ZDB: 530 Physik ; 620 Ingenieurwissenschaften und Maschinenbau

Erscheinungsform

Zeitschrift

Veröffentlichungsform

Kongressbericht

Sprache

Englisch

Erscheinungsland

Vereinigte Staaten, USA, United States

Medientyp

Druckausgabe

IDN

013487507

Letzte Änderung

03-09-22

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