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Semiconductor measurement technology : progress report / US Department of Commerce, National Bureau of Standards

Washington, DC : US Gov.Print.Off. 21.1973,Juli/Sept.(1974) -

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ZDB-ID

442600-9

Titel

Semiconductor measurement technology : progress report / US Department of Commerce, National Bureau of Standards

Erschienen

Washington, DC : US Gov.Print.Off.

Mikrofiche-Ausg.: Washington, DC : US Gov. Print. Off.

Erscheinungsverlauf

21.1973,Juli/Sept.(1974) -

Anmerkungen

SuDocs-Class.-no.: C 13.10

Frühere/spätere Titel

Vorg.: Methods of measurement for semiconductor materials, process control, and devices

Weitere Titelhinweise

21=400,1; 22./23=400,4; 24=400,8; 25=400,12; 26=400,17; 29./30=400,25 von: USA. National Bureau of Standards: National Bureau of Standards special publication (ISSN: 0083-1883)

Standardnummern

Amtliche Druckschriften-Nr.: C 13.10

OCLC-Nr.: 1367764534

Sacherschließung

DDC-Sachgruppen der ZDB: 620 Ingenieurwissenschaften und Maschinenbau

Erscheinungsform

Zeitschrift

Erscheinungsland

Vereinigte Staaten, USA, United States

Medientyp

Druckausgabe

IDN

012538876

Letzte Änderung

03-09-22

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