1062591-4  

Electron and optical beam testing of integrated circuits : proceedings of the ... European Conference on Electron and Optical Beam Testing of Integrated Circuits

European Conference on Electron and Optical Beam Testing of Integrated Circuits 

Amsterdam [u.a.] : Elsevier Science Publ.

1.1987

Forts. als Monographie behandelt

1=7,2/4; 2=12 von:  Microelectronic engineering  (ISSN: 0167-9317) 

OCLC-Nr.: 1366475716

DDC-Sachgruppen der ZDB: 530 Physik  ;  620 Ingenieurwissenschaften und Maschinenbau 

Zeitschrift

Kongressbericht

Niederlande 

Druckausgabe

015940128

01-12-17